TCD－9302局部放（fàng）電測試儀 技術使用說明書 一、概述 TCD－9302局部放電測試儀是我公司研製開發生產的一種（zhǒng）新型儀器。它基本上保持了原有局部放電檢（jiǎn）測儀的優點和功能，並致力於縮小儀器體積、重量、使之（zhī）成為（wéi）名符其實的攜帶式（shì）儀（yí）器。該儀器是根據IEC(270)標準，利用脈衝電流（liú）法原理研製而成，並滿（mǎn）足GB-7354-2004、GB-1207-97、GB－1208－97中關於局部放電測試對測試（shì）儀器規定的技術要求。該儀器（qì）具有靈敏度高、放大器係統動態範圍大、測試的試品範圍廣、操（cāo）作簡便等優點（diǎn）。並采用先（xiān）進的抗幹擾組件和獨特的（de）門顯示電路，抗幹（gàn）擾能力強，並具有四種高頻橢圓掃描，適（shì）用於高壓產品的型式、出廠試驗，新產品研製試驗，電機、互感器、電纜、套管、電容器、變壓器、避雷器、開關及其它高壓電器局部放電的定（dìng）量測試。可供製造廠、科研部門、電力部門現（xiàn）場使用。 二、名詞、術語 1． 局部放電 局部放電是指在絕緣（yuán）的局部位置（zhì）放電，它並不構（gòu）成整個絕緣的貫通性擊穿。它（tā）包含三種放電形式（shì）：內（nèi）部放電（在介質內部）、沿麵放電（在介質表麵）、電（diàn）暈放電（在電極**）。 2． 電荷量q 在試品兩端（duān）瞬時注入一定（dìng）電荷量，使試品端電壓的變化和由（yóu）局（jú）部放電本身（shēn）引（yǐn）起的端電壓的變化相同，此注入量（liàng）即為局部放電的視在電（diàn）荷量。 3． 視在放電量校準器 視在放電量校準器是一標準電量發生器，試驗前它以輸出（chū）某固定電量加之試品兩端，模擬該試品在（zài）此電量（liàng）下放電時局部放電測試儀的（de）響應，此時調整刻度係（xì）數，確定（dìng）局部放電檢測儀的量（liàng）程，以便在試驗時測量（liàng）該試品在額定電壓下的視在（zài）放電量。因該放電量時以標準電量發生器比較後間（jiān）接測出，而非直（zhí）接測出，故此放電量稱為“視在放電量”。 校正電量發生器是測量局部放電時必備的儀器，它的性能參數直接關係到測試結果的準確性。 視在放電量（liàng）校準器由校準脈衝電壓發生器和校準電容串聯組成，其參數主要包括：脈衝波（bō）形上升時間、衰（shuāi）減時間、內阻、脈衝峰值、校準電容值等。 校準脈衝電（diàn）壓發生（shēng）器電（diàn）壓（yā）波形上（shàng）升時間為（wéi）從0.1U0到0.9U0的時間，衰減時間定義為從峰值下（xià）降到0.1U0的時間。 4．檢測阻抗 檢（jiǎn）測阻抗是（shì）拾取檢測（cè）信號的裝置，在使用中，應根據不同的測試目的，被試品的種類來選擇合適的檢測阻抗，以提高局（jú）部放電測量的靈敏度、分辨能力、波形特（tè）性及信噪比。 檢測（cè）阻抗按調（diào）諧電容範圍分1～12號。（見表1） 5．時間窗(門單元) 時間窗是為防止大於局部放電的幹擾信號進入峰值檢波電（diàn）路而設計的一種電路裝置。因在實際試驗時，尤其是在現場（chǎng）做試驗時，不可避免地會引入一些幹擾，所以，時間窗的使用更（gèng）顯得重要。 時間（jiān）窗的工（gōng）作原理是把橢圓掃描時基分成導通(加亮區域)和截止(未加亮區域)兩（liǎng）部分,通過改變時間窗（chuāng）的位（wèi）置和寬度將放電脈衝置於導通(加亮區域)，幹擾脈（mò）衝置於截止(未加亮區域)，此時（shí）儀表讀數即為放電脈衝數值，而幹擾則不論大小（xiǎo），皆不會影響（xiǎng）放（fàng）電脈（mò）衝（chōng）數值。若此時兩個時（shí）間窗同時（shí）關閉，則儀表讀數為整個（gè）橢圓上脈衝之峰值（zhí）。 三、技術參數 1．可測試品的電容範圍：6ｐF~250ｕF 2．檢測靈敏度及允許電流(見表1)。 3．橢圓掃（sǎo）描時（shí）基 (1) 頻率（lǜ）：50、100、150、200、400Ｈz (2) 旋轉：以30度為一檔，可旋轉（zhuǎn）120度。 (3) 工作（zuò）方式：標準（zhǔn）－擴展－直線。 (4) 高頻時基橢圓的輸入電壓範（fàn）圍：13~275Ｖ。 4．顯示單元（yuán） 采用100×80mm矩形示波管，有亮度（dù）與聚焦調節旋鈕。 5．放（fàng）大（dà）器 (1) 3dB低頻端頻fL：20、40KHz任選。 (2) 3dB高頻端頻率fH：200、300KHz任選。 (3) 增益（yì）調節：粗調6檔，檔間增益差10倍±5%。 (4) 細調範圍：＞10倍。 (5) 正（zhèng）、負脈（mò）衝響應不對稱性：＜5%。 6．時間（jiān）窗 (1) 窗寬：5度~150度(50Hz) 連續可調。 (2) 窗位置：每一窗可旋轉0度~170度。 (3) 兩（liǎng）個（gè）時間窗可分別或同時控製。 7、脈衝峰值（zhí）表 (1) 線（xiàn）性（xìng）指示：0~100誤差（chà）不大於5%。 (2) 對數指示：1~100誤差不大於5%。 表1 檢測靈敏度及輸入單元允許電流值 輸入單元序號（hào） | 調（diào）電容範圍 | 靈敏（mǐn）度(PC) (不平（píng）衡電路) | 允許電流有效值 | 不平衡電路 | 平衡電路 | 1 | 6－25－100微微法 | 0.02 | 30mA | 0.25A | 2 | 25－100－400微微法 | 0.04 | 60mA | 0.5A | 3 | 100－400－1500微微法 | 0.06 | 120mA | 1A | 4 | 400－1500－6000微微法（fǎ） | 0.1 | 0.25A | 2A | 5 | 1500－6000－25000微微法（fǎ） | 0.2 | 0.5A | 4A | 6 | 0.006－0.025－0.1微（wēi）法 | 0.3 | 1A | 8A | 7 | 0.025－0.1－0.4微法 | 0.5 | 2A | 15A | 8 | 0.1－0.4－1.5微法 | 1 | 4A | 30A | 9 | 0.4－1.5－6.0微法 | 1.5 | 8A | 60A | 10 | 1.5－6.0－25微法 | 2.5 | 15A | 120A | 11 | 6.0－25－60微法 | 5 | 25A | 200A | 12 | 25－60－250微法 | 10 | 50A | 300A | 7R | 電阻 | 0.5 | 2A | 15A |
8、具有輔助識別放電脈衝相（xiàng）位的零標誌係統。 9、工作電源 220V±10% 工頻 10、體積：440×430×180mm 11、重量：約15Kg 四（sì）、係統工程原理簡介 若試品Ｃa在試驗電壓下產生局部放電時，經（jīng）耦合電容Cｋ產生脈衝電流，由輸入單元拾取得脈衝訊號，經低（dī）噪聲前置放大（dà）、濾波放大器選擇所需頻帶及主放放大後，在示波（bō）屏的橢圓掃描基線（xiàn）上顯示出放電脈衝，同時也送到脈衝峰值表（對數表）顯示其峰值。時間窗單元控製試驗（yàn）電壓每一周期內脈衝峰值表的工作時（shí）間，並在這段時間內將顯示屏的（de）顯示加（jiā）亮，寬度（dù）與位置可以改變，進一步加強了抗（kàng）幹擾能力。 整個係統工作原理可（kě）參看框圖（圖1）。 圖1 TCD－9302局部放電測試儀原理方框（kuàng）圖 |
五、通（tōng）用試驗方法 (一)試驗目的 (1) 證（zhèng）實試品在規定電壓下沒有高於規定值之（zhī）局部放電； (2)測（cè）定（dìng）電壓上升時出現放電超過（guò）某一規定值時的（de）*低（dī）電（diàn）壓(起始放（fàng）電電壓)和電壓下降時放電低（dī）於規定值時*高電壓(終（zhōng）止放電電壓)。 (3) 測定在某一規定電壓下的放電強度。 (二)試驗條件 (1) 交流電源電壓（yā）應（yīng）為正弦波，不應有過大的（de）高次諧波。 (2) 試品的電氣、機械、溫度條（tiáo）件應良好且穩定。 (3)由於電壓回滯現象的影響，在試驗（yàn）前至少幾小時以上的時間內，不要承受超過規定的局部放電試（shì）驗電壓*高值以上的（de）電壓。 (4) 經過搬運後（hòu）的（de）試品，必須靜（jìng）放一段（duàn）時間後再做局部放電試驗(油浸)。 (三)試驗程序 1.將試驗區內的雜物盡量移到試區以外，各種金屬物體應牢固接地，檢查和改善試區內一切（qiē）可能放電的部位，應特別注意各種（zhǒng）地線是否已接地。 2. 根據不同的試品和試驗條件，選擇正確的（de）接線方式。 3. 用視在放電量校準器（qì）（Q視）對整個測試係統進行刻度係數K校正。如圖1將視在放電量校準器接入線路中，調（diào）節儀器的（de）增益旋鈕，把指針調至參考值H，則刻度係數K＝H/Q視（詳見具體操作說明5） 。校正完畢後，測試儀器的細調（連續調節）增益旋鈕不得隨（suí）意變動，同時應（yīng）將視在放電量校準（zhǔn）器從高壓線路（lù）上取下，以免（miǎn）在加壓試驗時將視在放電量校準器擊穿而使高壓線路短路。 (四)注意事項 1.在試驗開始加壓以（yǐ）前，試驗人員必須詳細而（ér）**地檢查（chá）一遍線路，以免線路接錯。測試儀器處的接地線是否與接地體牢固連（lián）接，若連接不牢或在準（zhǔn）備工作時掐頭去尾線被腳踢斷（duàn），這將可能引起人身和設（shè）備事故。 2．對於連接線應避免將**暴露（lù）在外，防止**電暈放電，尤其對於電壓等級較高的局部放電試驗，必要時要加粗高壓連接線及（jí）加裝防電暈罩，減小因（yīn）場強過高引起的電暈放（fàng）電。屏（píng）蔽罩不能與試品的瓷裙相接觸。 3.一般情況下，在試驗過程中，被試品在耐壓、預升壓時局（jú）部放電量都比正常值大很多，此時儀器（qì）的儀表必然會超出滿刻度。為防止（zhǐ）儀器損壞，應將儀器的增益粗調旋鈕（niǔ）逆時針旋轉一檔或更多檔（dàng），以不超出滿刻度為標準。當電壓降至測量電壓時，再將增益粗（cū）調開關順時針旋轉一檔（dàng）或更多（duō）檔，以便記錄測量值。 4.校正（zhèng）電量發生器校正（zhèng）完畢後，一定要從高壓端脫離，並關閉電源開關，且儀器的增（zēng）益細調旋鈕不可再調。因增益粗（cū）調開關每相鄰兩檔之間的關係是十倍，且檔（dàng）位有指（zhǐ）示，故升壓後根據放（fàng）電量大小，可選擇合適量程。逆時針旋轉時，每降一檔量程擴大（dà）十倍；反之，順時針時，量程縮小十（shí）倍。 5.試驗完（wán）畢後（hòu），應對整個測試係統再進行一次複查校正，驗證是（shì）否與試驗前所校（xiào）正出的刻度係數相等（děng），以（yǐ）免測試儀器或其它環節在試驗過程中發生故障而（ér）使測試結果不對。 六、具體操作說明 （一）試驗準備（bèi） 1．根據試品的容量Ca，耦合電容的大小Ck，選取適合序號的輸入單元。表1中調諧電容量係指與輸入單元初級繞（rào）組並（bìng）聯的電容（粗略估算以按試品容量與耦合電容的（de）容量串聯（lián）計算）。例如：試品容量為120ｐF，耦合電容量為1000ｐF，則所需檢測阻抗為有 ≈107，查表1可取2號（hào）單元。
輸入單元應（yīng）盡量靠近試品，輸入單元經8米長的測量電纜與放大器輸（shū）入插座（zuò）相連。 2. 試品接入輸入單元的（de）方法有（yǒu）以下幾種（見圖3）：  
其中：Z為阻塞阻抗； Ca為（wéi）試品； Ck為耦合電容（róng）。 1． 麵板示意（yì）圖  
4．準（zhǔn）備 在儀器後麵板AC220V插座上接上220V工頻電源，然後打開電源開關，讓儀器（qì）預熱5分鍾，同時對有關（guān）開關進行操作。 “標準－擴展－直線”開關置於標準 放大器頻帶fL、fH分別（bié）置20KHｚ，300KHｚ，放大器增益粗調置3檔，細調置中（zhōng）間位置，切不可（kě）一開始將粗調（diào）開關置***。 根據不同頻率的試驗電源選擇電源頻率，以便觀察合適（shì）的橢圓。 如果中頻試驗電源，請將中頻試驗電（diàn）壓開關旋在（zài）275V檔，然（rán）後再接上（shàng）中頻電源。觀察數字表讀數（shù），如果差得太多，可將試驗電壓開關往小檔位上旋一檔，直至合適值，千萬不可旋（xuán）在太小（xiǎo）檔位上，同時請注意，輸入儀器的中頻電壓萬不可超過規定值275V！，否則儀器被損（sǔn）壞。 橢圓旋轉（zhuǎn）可（kě）不作調節。窗開關打在（zài）關位置，以（yǐ）後根據幹擾出現的相位可開窗適當（dāng）調旋轉，根據幹（gàn）擾情（qíng）況調窗寬（kuān）、位置（zhì），使幹擾在門（mén）窗之外，使局部信號在窗上，以便讀（dú）取放電的數值。 線性、對數開關置於線性位置。 5. 視在放（fàng）電量校準（JZF－10校正脈衝（chōng）發生器） 用視在放電量校準器（JZF－10校正脈衝發生器）的輸出接於（yú）試品兩（liǎng）端，紅（hóng）端接高壓端(引線盡可能短，以防幹擾)，黑端接低壓端（duān），調節其輸出放電量，例如50PC，調節放大器增益粗（cū）調及增益細調旋鈕，使放電量表指示（shì）滿度（dù）。此時放電量表指示滿度即100%表示50PC的放電量，注意此時增益細（xì）調旋（xuán）鈕（niǔ）位置不可再（zài）動。測量盒應盡量靠近試品高壓端。 校（xiào）準完畢後，拆除（chú）視在放電量校準器的連線，並關斷其（qí）電源，防止高壓損壞校準器。 6. 試驗操作 接通高壓試驗回路的電源，逐步升（shēng）高電壓（yā）至規（guī）定（dìng）電壓，時刻注視PC表指示，此時放（fàng）電量表的讀數表示試品放電量的大小，如指示在80%，則表示試品視在放電量為（wéi）50×80%＝40PC。 若此時（shí）試品放電（diàn）量剛大於100%即超過滿度，應立即將放大器增益粗調由原（yuán）來的“3”切換到“2”檔，此時放電量表100%，則表示500PC，假如此時放電量指示80%，由（yóu）試品放電量（liàng）為500×80%＝400PC。 若此時試品放電量小於10%： a.應將放（fàng）大器粗調由“3”檔改至“4”檔，此時放電量表100%則表示5PC，假如此時放電量表指示80%，則試（shì）品視在放電量（liàng）為5×80%＝4PC。 b.將儀器麵板上對數、線性開關切換至對數位置，因對數刻度10%以下分辨率高，可直（zhí）接讀出對數刻度。 旋轉“橢圓旋轉”開關（guān）使橢圓轉到預期的放電*利於（yú）觀察之處（chù）。通常這個位置是零標（biāo）脈衝分別處於橢圓上部左側及下部右側之處。連續升高電壓，注意**次出現持續放電，當放電量超過規定的*低值時的（de）電壓即為局部放電起始電壓。 若有幹信號（hào）在放電（diàn）脈（mò）衝附近，可以（yǐ）用窗寬和窗位置將幹信號擾（rǎo）拒之窗外，即合擾窗開關，用一個（gè）或兩個時間窗並用窗寬、窗位（wèi）置來改變橢圓上加亮區域的寬度（dù）與位置，使其避開（kāi）幹擾脈衝（chōng），這樣（yàng），放電量表的指示值隻表示放電脈衝的大（dà）小，而不表示幹擾信號的值，另外也可以改變（biàn）頻（pín）帶的方法來（lái）提高抗幹（gàn）擾能力（lì）。 注：如需判斷放（fàng）電相位，接上合適（shì）的電阻分壓（yā）器，取得10V左右的零標（biāo）電壓（yā），緩緩升高試（shì）驗電壓，橢圓（yuán）上將出現兩個零標誌（zhì）脈衝，通過零標誌可判別放電的相位，如圖所（suǒ）示： 七、測試中的幹擾問題 在局部放（fàng）電測試中，往往由於外部幹擾信號的影響，而使測試結果產生誤判斷，或者使測試工作根本（běn）無法進行下去。尤其對從事局部放電測試工（gōng）作經驗不多的人，更容易引起誤判斷。因此，在局部放電測試技術中（zhōng），消除外部幹擾成（chéng）為一項很重要的技術內容，同時也是花錢較多的（de）一項技術措施。 (一) 外來幹擾 1．與電源電（diàn）壓無關的幹擾 這種幹擾與電源電壓（加至被試品上的電壓）無關，它不隨（suí）電源電壓的升高或降低而變化。它（tā）產生於：電氣開關（guān）的開閉操作、電焊起弧、吊車開動、整流電機的電刷、閃光燈、無線（xiàn）電電磁波以及各種工業幹擾等等。這些幹擾通過電源（yuán）、測試回路和地線等途（tú）徑侵入進來。 2. 電源電壓有關的幹擾 這（zhè）類幹擾一般隨電源電壓的增加而變大。它可由試區內各個部分產生。例如（rú）：試驗變壓器、高壓引線、試品端部、高壓（yā）線路接觸**、高（gāo）壓（yā）試區的絕緣物體與地線（或接地金屬物（wù））接觸、試區內金屬物體接地**、以及其它物體的感應放電等（děng）等。與（yǔ）電源電壓（yā）有關的幹擾的侵入途徑，可以通過電源、高壓導線、空間和地線侵（qīn）入到測試（shì）回路內。 (二)消除外（wài）來幹擾的方法 1.消除與電源電壓無關的幹擾方法：應從電源、空間、接地方式幾個方麵采取措施（shī）。為了（le）消除空間電磁波的幹擾，應將試（shì）驗室加以屏（píng）蔽。對於由電源侵入的幹（gàn）擾，一般在電源進口處加隔（gé）離變壓器和濾波裝置。消除由（yóu）接地網來的（de）幹擾，應采取一點接（jiē）地方式。 2.消除與電源有關的幹擾（rǎo）措施：可將高壓導線加（jiā）粗（用較粗的蛇皮管、薄鐵（tiě）皮（pí）圓筒或鋁（lǚ）筒）；對被試（shì）品端部加防暈（yūn）罩；試區內各地線和金屬物（wù）應（yīng）良好接地；試（shì）區內的絕緣物體嚴禁與金（jīn）屬接地體接（jiē）觸；在高壓線（xiàn）下部地麵上不應有螺釘、地線頭等金屬（shǔ）物體。 八、附件 說明書 1份 質量反饋（kuì）單 1份 電源線 1根 高頻線 1根（gēn） 測試電纜（lǎn） 1根（8米） 保險絲 2隻 合格證 九、成（chéng）套裝置 1. 輸入（rù）阻（zǔ）抗 1~12號任選，7R號測長電（diàn）纜用。 2. 視（shì）在放電量器（qì）校準器（JZF－10校正（zhèng）電量發生器，局放儀校正脈衝發生器）任選。 3. LB係列（liè）工頻、中頻濾波器 4. SBP係列三（sān）倍頻感（gǎn）應試驗設（shè）備（bèi） 5. 無局放電阻分壓器50KV、100KV、150KV、200KV任選。 6. 無（wú）局放耦合電容係列 7. YD無局放試（shì）驗變壓（yā）器係列 8. 工頻試驗（yàn）控製台 十、視在放電量校準器參數及使用 (一)局放儀校正脈衝發生器 局放儀（yí）校正脈衝發生器是專為局部（bù）放電的檢測而設計（jì）的，本（běn）儀器的精度、上升時間、重複頻率等直接（jiē）決定了局部放電的測試精度，此儀器符合IEC標準。此（cǐ）校正脈衝發生器輸出電（diàn）量10~5000PC任意調節。適用於先校準後試驗，先試驗後校準的（de）局放試驗中。 一、技術參數（shù） 1．方波（bō）幅值 滿刻度為（wéi）2.5V、5V、10V、25V、50V； 精度為（wéi）±2% 2. 衰減器：10:1衰減3級。 3. 輸出脈（mò）衝極性（xìng） “＋”每周期提供一個主正向脈衝（chōng）； “±”每周期提供一個正向脈衝（chōng）和一個（gè）負向脈衝（chōng）； “—”每周期提供一個負向脈衝。 4. 方（fāng）波前（qián）沿＜0.05us 5. 重（chóng）複（fù）頻率：45Hｚ~65Hz，連續（xù）可調。 6. 脈衝衰減（jiǎn）時間100us~1000us 7. 內阻＜75Ω。 8. 工作方式：感應同步，手動調節。 9. 一（yī）次工作時間5分鍾。 10．儀器工作環境 0~40℃，相對濕度≯85； 儀（yí）器周（zhōu）圍無強烈振動，儀器（qì）平（píng）放工作，不得傾斜（xié）。 11．電（diàn）源：10V可充電電池。 二、操作程序 用戶可根據實際情況選擇輸出幅值和Cq(10pF、100pF)、模擬放電量為Q=Cq×Uo。 將輸出電纜一端接到“衰減輸出”高頻插座，另一端（duān）接到裝有注入（rù）電容的匹配盒。 將極性開關調節到所需要的脈衝型號，按下（xià）啟動按鈕，儀器進入工作狀態。調（diào）節“方波幅值”旋鈕到所（suǒ）需要（yào）的電壓值範圍，然後再調節“細調”，將同步選擇開關（guān）打到調頻，然後調節旋鈕使脈衝的（de）頻率盡量接近於試驗電源的頻率，如果需要同步，將開關打到感應接線柱上，此時脈衝與電網頻率同步。當“極（jí）性開關”旋到（dào）“V”檢查時，看表頭指示是否在紅線以下，如果在紅線以下時則需充電。 校正（zhèng）結束後，必須（xū）將匹配盒拿下，以免升高壓（yā）時打壞，將儀器置於“關”位（wèi）置。 注：此儀器工作時必須（xū）平放，不（bú）能傾斜，另此儀器的方波信號為不接地的，不用接地。 JZF－10型正電量發生器的主要技術（shù）指標及使用 JZF－10型（xíng）校正電量發生器（qì）是一（yī）種小型的可充電電池供電的（de）視在放電量校準器，它可以分別以四種放電量向試品兩端注入1.2KHｚ左（zuǒ）右的校正脈衝，可用於先校準後試驗的局放試驗中（zhōng），適合於國（guó）際電工委員會IEC－270所推薦的任何一種試驗電路。 （一）主要技術參數 電池電壓 1.25×8V 輸出電（diàn）荷量 5、50、500PC或5、10、50、100PC 方波前沿 ＜0.05us 脈寬： 100us~1000us 內阻： ＜75Ω 重複頻率 1.2KHｚ 頻率變化 ＞±200Hｚ 注入電容 10PF、100PF或10PF、20PF （二）使用方法 首先檢查JZF－10校正脈衝發生器（qì）的電池電壓，如麵板上電壓表指示，在8V以上方能（néng）正常工作。 將輸出的紅（hóng）、黑兩個端子（zǐ）上接上導線，紅端子上的導線盡量（liàng）短，且靠近試品的高壓端，黑線（xiàn）導線（xiàn）接試品的低壓端，將校正電量（liàng）開關置於5、10、50、100、500中任何合適一檔即可校正。頻（pín）率可在1.2KHｚ附近調節。 校正（zhèng）電量發生器使用後及時將調節電荷量的波段（duàn）開關旋在關（guān）位置。如校正電（diàn）量發生器工作時表頭指示在8V以下，則需充電，充電要適時，且時間要（yào）連續達到5小時。如校準電量發生器常期未用，則每月補充一次電。 十（shí）一、常見圖（tú）譜分析 （1）接觸** 這種幹擾源如（rú）圖1所示。其特（tè）點是幹擾波位於橢圓時基的零點附近。在正負半波上對稱出現，幅值相差不（bú）大。幹擾在低電壓時即出現。電壓增大時，幹擾占位區域也增大，由於疊加效果（guǒ）幅值增大較慢。有時在電壓（yā）達到某一定數值（zhí）後會完全消失。 造成這種幹擾的原因（yīn）有：試驗回（huí）路中金（jīn）屬對金屬接（jiē）觸**，塑料電線半導電屏蔽層中粒子間接觸**，電容（róng）器（qì）卷繞（rào）鋁箔電極與插接片接觸**等。 （2）浮動電位物體 波形見圖2，特別是在電壓峰值（zhí）之前的正負半波部分出（chū）現。等幅值間隙不等。由於餘（yú）輝，有時成對的出現，有（yǒu）時圖像有飄動。電壓（yā）增加時，根數增加，間隙（xì）縮小，中間值不變。有時電壓增加到一（yī）定值後幹擾信號會消失，再降低電（diàn）壓時，又會重新出現。 起因：金屬或碳質導體之間的間隙放電（diàn）。它可以發生在試樣（yàng）上或測試回路中（zhōng）。在兩個孤立的導電物之間，例如地麵上處於浮動電位的多種物體間發生。 （3）外部**電暈 波（bō）形如圖3，特別是（shì）僅在試驗電壓的一個半波中出現，位於外施電壓的（de）峰值部分，等（děng）幅值，等間距。電壓增加時，放電訊號波的（de）根數增加，但幅值總不變。 起因：高壓電極的**或邊緣對空氣中的放（fàng）電。若（ruò）幹擾（rǎo）訊號位於橢圓時基的負關周，則**電暈（yūn）處於高電壓下，若幹擾訊號（hào）位於（yú）時基橢圓的正半周，則**在接地部分（fèn），有時也可（kě）能高壓（yā）、接地部分都（dōu）有**電暈放電，則時基橢圓的正負半周就出現兩組訊號。 （4）液（yè）體介質中的**放電 波形見圖4，特別：在試驗電壓正負半周峰值位置均有一組訊（xùn）號，同一組訊號等幅值，等間隔，一組（zǔ）中間值（zhí）較大的訊號先出現（xiàn），隨電（diàn）壓增加值也增大。一組中間值小的訊號其（qí）幅值不隨電壓變化。 起因：在絕（jué）緣液體（tǐ）中發（fā）生了**或邊緣電暈放電。或一組大的訊號出現在正半周，則**位於高壓（yā）部分；若它出現（xiàn）在負（fù）半周，則**處於接地部分。 （5）繼電器，接（jiē）觸器的動作 幹擾訊號波形（xíng）見圖5，特點：在時基橢圓上幹擾訊（xùn）號波形分布（bù）不規則，間隙地（dì）出現，且同（tóng）試驗（yàn）電壓大小無關。 起因：閃光燈，熱繼電器，接觸器和各種火花試（shì）驗器或有火花放電的記錄器動作時（shí）造（zào）成（chéng）。 （6）可控矽元件 幹擾訊號波（bō）形見圖6，特點：幹擾訊號在時基橢圓上（shàng）之位置固定，每（měi）一元件（jiàn）產生一個獨立的（de）高頻脈衝訊號。電路（lù）接通，電磁耦合效應增強時，訊號幅值增加，也可能發生波（bō）形展寬、相（xiàng）移，從而在（zài）時（shí）基上占位增加。 起因：供電網絡（luò）中有可（kě）控矽器件在（zài）運行。幹擾的大小同所用可控矽（guī）器件的功率（lǜ）直接有關。 （7）異步電機 幹（gàn）擾波形見圖7。特點：在時基橢圓上正（zhèng）負半周波形出現對稱的二組訊號，且沿（yán）掃描時基逆時針（zhēn）方向移（yí）動。 起因：異步電機運行時產生的幹擾訊號（hào）耦合（hé）到（dào）檢測回路中來。 （8）螢光燈 幹擾波形（xíng）見圖8。特點：在橢圓（yuán）時基上出現欄柵狀幅值大致相等的脈衝，並伴有正負半波時對稱出現的二簇脈衝組（zǔ）。 （9）電動機 幹擾波形見圖9。特點：沿橢圓時基均布，等（děng）幅值每一個單個訊號或“山”字形。 起因：帶換向（xiàng）器的電（diàn）動機如風扇、電吹風運轉時所發出的幹擾訊號。 （10）無線電（diàn）幹擾 幹擾波形（xíng）見圖10，特點：沿整個時基（jī）橢圓分布的幅值有調製的高頻正弦波。 起因：高頻（pín）電力放大器，無線電話、廣播話筒等。 （11）中高頻工業設備 幹擾波形見圖（tú）11。特點：訊號在時基橢圓上連續發生，但僅在（zài）半周內出現。 起因：感應加熱裝置及頻率接近局部放電檢測頻（pín）率的超聲波發生器等。 （12）磁飽和（hé）產生的諧波（bō） 幹擾（rǎo）波形見圖12。特（tè）點：在時基橢（tuǒ）圓正負半（bàn）波上對稱出現一對諧波振蕩訊號，訊號幅值隨電壓增加（jiā）而增加，電壓除去，訊號消失。訊（xùn）號（hào）穩定，能重複再現。 起因：試（shì）驗係統中鐵芯設備（試驗變壓器，並聯或串聯電抗（kàng）器，濾波電抗器（qì），匹配變（biàn）壓器，調壓變壓器）磁飽（bǎo）和時產生的諧振訊號。 （13）電極在電場（chǎng）方（fāng）向運動 幹擾（rǎo）波形見圖13。特點：僅在時基橢（tuǒ）圓的半周中出現二個訊號脈衝，它們相對於（yú）峰值點對稱分布。起始（shǐ）點該（gāi）二訊號很靠（kào）近，隨（suí）電壓增大，二者逐漸分開，且有可能產生新的訊號脈衝對。 起因：電極（尤（yóu）其是金屬箔電極）在電場作用下運動。 （14）介質表（biǎo）麵放電 幹擾訊號波形見（jiàn）圖14。特點：放電訊號出現在試驗（yàn）電壓峰值之前。正負半周（zhōu）中都有，而且幅值（zhí）基（jī）本相等。訊號幅（fú）值和位置有隨機性變化。開始時，放電訊號是可分辨 的，到一定電壓值後便難以（yǐ）分辨（biàn）。 起因：二個接觸的絕緣導體之間介（jiè）質表麵上的，或介質表麵上切向場強（qiáng）較高的區域（yù）發生放電。 （15）漏電痕跡和樹枝 波形特點：訊號與一般典型的圖像不符合，波形呈不規（guī）則，不確定的圖像，與電壓有關。 起因：髒（zāng）汙絕緣中泄（xiè）漏，絕緣局部過熱致的碳痕跡或電樹枝足道（dào）等。 上述有些圖像，如（4）、（13）、（14）、（15）等（děng）也可（kě）能即屬試品本身的缺（quē）陷。（15）則為介質內部放電之圖像。 |